培训内容：全反射X射线荧光光谱仪应用解析及仪器操作
主 讲 人：黄海晏、王洋 应用工程师
培训时间：2024年7月31日（周三）15:00
培训地点：国家重点实验室263（理论）及249（操作）
仪器简介：
X 射线荧光（XRF）光谱法作为一种常见的元素含量分析手段，有着广泛的应用，而全反射X射线荧光光谱仪（TXRF）的出现，突破了传统XRF的检出限，极大地拓展了XRF的应用范围。Bruker S4 Tstar全反射X射线荧光光谱仪，采用二次全反射原理，将激发光微聚焦到样品上，可进行液体、固体等样品中超微量元素的检测，检出限低至ppb级别。该型TXRF操作简单，制样便捷，无需耗材、气体，仅需极少量样品即可实现样品中元素的快速定量分析，适用于样品稀缺、测试量大以及样品种类多变的元素分析试验。
温馨提示：
参加培训的同学请扫描上方二维码进行登记，
上机培训期间请师生穿实验服、戴鞋套。
该仪器是厂家样机，在我校试用5天
（
7月31日9:00
至
8月4日14:00
）
，请有测试需求的师生携带样品到国家重点实验室249实验室，由工程师现场测定
。
